기존 전자 현미경 분석은 시료 손상 및 실제 구동 환경 재현의 어려움으로 첨단 재료 연구에 한계가 있었습니다. 본 발명은 다층 구조의 혁신적인 현미경 시편과 분석 방법을 제안합니다. 이 기술은 시료를 파괴하지 않고, 전기장 인가 상태에서 타겟 물질층의 실시간 구조 변화(예: 도메인 구조)를 정밀하게 관찰할 수 있도록 합니다. 이를 통해 반도체 소자 등 실제 구동 환경에서의 비파괴적, 실시간 재료 분석이 가능해져 첨단 전자 디바이스 개발에 크게 기여할 것입니다.