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통신 과정에서 발생하는 비트 오류는 데이터 무결성을 저해하고 민감 정보 유출 위험을 내포합니다. 기존 오류 수정 방식은 처리 속도가 느리거나 정보 노출의 한계가 있었습니다. 본 발명은 워드 마스크를 활용한 고속 병렬 비트오류 보정 방법을 제시합니다. 이 방법은 데이터를 워드 단위로 블록화하고 병렬 처리하여 패리티 연산 속도를 획기적으로 높입니다. 또한, 마스크 워드를 사용하여 오류 수정 과정에서 불필요한 정보 유출을 최소화함으로써, 특히 양자키분배(QKD)와 같은 비밀 통신 환경에서 뛰어난 보안성을 제공합니다. 본 기술은 빠른 오류 검출 및 수정은 물론, 통신 효율과 보안성을 동시에 극대화하여 안정적인 데이터 전송 환경을 구축하는 데 기여합니다.
기술명 | |
워드 마스크를 이용한 고속 병렬 비트오류 보정방법 | |
기관명 | |
서강대학교산학협력단 | |
대표 연구자 | 공동연구자 |
손원민 | - |
출원번호 | 등록번호 |
1020140113158 | 1015751230000 |
권리구분 | 출원일 |
특허 | 2014.08.28 |
중요 키워드 | |
정보 유출 최소화XOR 연산비트오류 보정패리티 연산워드 마스크오류 수정병렬 처리비밀 통신데이터 동기화오류 검출고속통신 보안양자키분배효율적 보정데이터 전송통신네트워크데이터통신 |
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