금속층 1차 전사로 원자현미경 해상도 높이는 프로브 몰드 개발 썸네일
물질분석

금속층 1차 전사로 원자현미경 해상도 높이는 프로브 몰드 개발

기술분야

AFM 프로브 성형 기술

판매 유형

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판매 상태

판매 중

거래방식

공동연구
라이센스
특허판매
노하우

AI 요약

기존 원자현미경 프로브 몰드 제조는 팁 곡률반경 문제로 해상도 저하를 겪었습니다. 본 발명은 이러한 한계를 극복하기 위해 혁신적인 원자현미경 프로브 사출용 몰드 및 제조 방법을 제안합니다. 금속층 1차 전사와 탄성 실리콘 2차 전사를 통해 팁 곡률반경을 획기적으로 줄여 원자현미경의 해상도를 극대화합니다. 또한, 모세관 힘을 활용한 주입구 설계로 프로브 형성 물질의 주입 효율을 대폭 향상시킵니다. 이 기술은 고성능 AFM 프로브 생산의 생산성과 정밀도를 동시에 높여 연구 및 산업 현장의 요구를 충족시킵니다.

기본 정보

기술명
원자현미경 프로브 사출용 몰드 및 이의 제조 방법
기관명
서강대학교산학협력단
대표 연구자공동연구자
이정철-
출원번호등록번호
10201700913131020868020000
권리구분출원일
특허2017.07.19
중요 키워드
주형 설계해상도 향상모세관 주입정밀 계측 장비몰드 제조 기술금속층 전사곡률반경 제어마이크로 팁나노 계측AFM 프로브반도체 분석캔틸레버 제조원자현미경 프로브사출 성형탄성 실리콘물질분석나노구조

기술완성도 (TRL)

기본원리 파악
기본개념 정립
기능 및 개념 검증
연구실 환경 테스트
유사환경 테스트
파일럿 현장 테스트
상용모델 개발
실제 환경 테스트
사업화 상용운영

기술 소개

매도/매수 절차

기술이전 상담신청

연구자 미팅

기술이전 유형결정

계약서 작성 및 검토

계약 및 기술료 입금

서강대학교
문의처

서강대학교

담당자서강대학교산학협력단
이메일tlo@sogang.ac.kr
연락처02-3274-4863

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