고감도 마이크로파 근접장 영상화 현미경: 비동기화 기술로 소자 분석 혁신

영상기기 외

열 분포 활용 마이크로파 근접장 고해상도 영상화 현미경 개발

기술분야

마이크로파 근접장 영상화 현미경

판매 유형

직접 판매

판매 상태

판매 중

거래방식

노하우

공동연구

라이센스

특허판매

AI 요약

기존 마이크로파 소자 검증 기술은 긴 측정 시간, 복잡한 프로브 설계, 특정 물질 및 외부 자기장 요구, 신호 동기화 필요 등 다양한 한계를 가집니다. 본 발명은 마이크로파 근접장 가열을 이용한 새로운 영상화 현미경입니다. 인디케이터를 통해 마이크로파 근접장에 의해 발생하는 열 분포를 광학적으로 영상화하여 전기장 및 자기장을 효과적으로 측정합니다. 이 기술은 별도의 동기화나 외부 자기장 없이 고감도, 고분해능, 빠른 응답 속도로 마이크로파 소자의 동작을 분석하고 신뢰성을 검증할 수 있도록 돕습니다. 소자 개발 및 연구에 필수적인 혁신적인 솔루션을 제공합니다.

기본 정보

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기술명
마이크로파 근접장 가열을 통한 근접장 영상화 현미경
기관명
서강대학교
대표 연구자	공동연구자
이기진	-
출원번호	등록번호
1020150031507	1017150440000
권리구분	출원일
특허	2015.03.06
중요 키워드
마이크로파 소자 분석광탄성 효과고감도 현미경광학 인디케이터반도체 검증 기술RF 측정 장비영상화 현미경마이크로파 근접장경제적인 검사5G 통신 기술비접촉 측정미세 열응력 측정빠른 응답속도고주파 대역열 분포 영상영상기기광학기기

기술완성도 (TRL)

기본원리 파악

기본개념 정립

기능 및 개념 검증

연구실 환경 테스트

유사환경 테스트

파일럿 현장 테스트

상용모델 개발

실제 환경 테스트

사업화 상용운영

기본원리 파악

기본개념 정립

기능 및 개념 검증

연구실 환경 테스트

유사환경 테스트

파일럿 현장 테스트

상용모델 개발

실제 환경 테스트

사업화 상용운영

기술 소개

매도/매수 절차

기술이전 상담신청

연구자 미팅

기술이전 유형결정

계약서 작성 및 검토

계약 및 기술료 입금

문의처

서강대학교

담당자서강대학교산학협력단

이메일tlo@sogang.ac.kr

연락처02-3274-4863

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