
CMOS 이미지 센서, 면적 효율과 고속 변환 증대 SAR ADC 개발
AI 요약
기존 CMOS 이미지 센서는 고속 프레임 레이트 구현에 한계가 있었으며, 축차 비교형 ADC 도입 시 면적 효율 저하가 문제로 지적되어 왔습니다. 본 발명은 이러한 문제점을 해결하고자 고속 변환과 면적 효율을 동시에 개선한 축차 비교형 아날로그-디지털 변환기(SAR ADC) 및 이를 포함하는 CMOS 이미지 센서를 제공합니다. 저항 및 커패시터 타입 서브 디지털-아날로그 변환기의 3단계 하이브리드 구성을 통해 면적 효율을 크게 향상시키며, 서브 변환기 공유 기술로 고속 동작을 가능하게 합니다. 이는 차세대 CMOS 이미지 센서 개발에 핵심적인 기여를 합니다.
기본 정보
기술명 | |
축차 비교형 아날로그-디지털 변환기 및 이를 포함하는 cmos 이미지 센서 | |
기관명 | |
서강대학교산학협력단 | |
대표 연구자 | 공동연구자 |
범진욱 | - |
출원번호 | 등록번호 |
1020170109587 | 1019271010000 |
권리구분 | 출원일 |
특허 | 2017.08.29 |
중요 키워드 | |
면적 효율 개선데이터 변환기VLSI 설계아날로그 디지털 변환저전력 회로이미지 센서 칩반도체 설계시스템 반도체컬럼 ADC하이브리드 변환기CMOS 이미지 센서SAR ADC 기술고속 변환 기술축차 비교형 ADC픽셀 어레이전자회로디지털신호 |
기술완성도 (TRL)
기본원리 파악
기본개념 정립
기능 및 개념 검증
연구실 환경 테스트
유사환경 테스트
파일럿 현장 테스트
상용모델 개발
실제 환경 테스트
사업화 상용운영
기술 소개
매도/매수 절차
기술이전 상담신청
연구자 미팅
기술이전 유형결정
계약서 작성 및 검토
계약 및 기술료 입금

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