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CMOS 이미지 센서, 면적 효율과 고속 변환 증대 SAR ADC 개발

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시스템 반도체 설계

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AI 요약

기존 CMOS 이미지 센서는 고속 프레임 레이트 구현에 한계가 있었으며, 축차 비교형 ADC 도입 시 면적 효율 저하가 문제로 지적되어 왔습니다. 본 발명은 이러한 문제점을 해결하고자 고속 변환과 면적 효율을 동시에 개선한 축차 비교형 아날로그-디지털 변환기(SAR ADC) 및 이를 포함하는 CMOS 이미지 센서를 제공합니다. 저항 및 커패시터 타입 서브 디지털-아날로그 변환기의 3단계 하이브리드 구성을 통해 면적 효율을 크게 향상시키며, 서브 변환기 공유 기술로 고속 동작을 가능하게 합니다. 이는 차세대 CMOS 이미지 센서 개발에 핵심적인 기여를 합니다.

기본 정보

기술명
축차 비교형 아날로그-디지털 변환기 및 이를 포함하는 cmos 이미지 센서
기관명
서강대학교산학협력단
대표 연구자공동연구자
범진욱-
출원번호등록번호
10201701095871019271010000
권리구분출원일
특허2017.08.29
중요 키워드
면적 효율 개선데이터 변환기VLSI 설계아날로그 디지털 변환저전력 회로이미지 센서 칩반도체 설계시스템 반도체컬럼 ADC하이브리드 변환기CMOS 이미지 센서SAR ADC 기술고속 변환 기술축차 비교형 ADC픽셀 어레이전자회로디지털신호

기술완성도 (TRL)

기본원리 파악
기본개념 정립
기능 및 개념 검증
연구실 환경 테스트
유사환경 테스트
파일럿 현장 테스트
상용모델 개발
실제 환경 테스트
사업화 상용운영

기술 소개

매도/매수 절차

기술이전 상담신청

연구자 미팅

기술이전 유형결정

계약서 작성 및 검토

계약 및 기술료 입금

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문의처

서강대학교

담당자서강대학교산학협력단
이메일tlo@sogang.ac.kr
연락처02-3274-4863

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