
고속∙면적 효율 극대화한 CMOS 이미지 센서 변환기 개발
AI 요약
기존 CMOS 이미지 센서는 고속 프레임 레이트 구현 및 면적 효율 개선에 한계가 있었습니다. 본 기술은 이러한 문제점을 해결하기 위해 개발된 축차 비교형 아날로그-디지털 변환기(SAR ADC) 및 이를 포함하는 CMOS 이미지 센서입니다. 저항 타입과 커패시터 타입의 서브 디지털-아날로그 변환기를 효율적으로 조합하고, 저항 타입 서브 변환기의 공유를 통해 면적 효율을 획기적으로 개선합니다. 또한, 리던던시 비트 활용으로 에러 발생률을 최소화하며 고속 변환을 가능하게 합니다. 이 기술은 차세대 고성능 이미지 센서 개발에 기여할 것입니다.
기본 정보
기술명 | |
축차 비교형 아날로그-디지털 변환기 및 이를 포함하는 cmos 이미지 센서 | |
기관명 | |
서강대학교산학협력단 | |
대표 연구자 | 공동연구자 |
범진욱 | - |
출원번호 | 등록번호 |
1020170085731 | 1018990120000 |
권리구분 | 출원일 |
특허 | 2017.07.06 |
중요 키워드 | |
디지털 아날로그 변환기아날로그 디지털 변환기SAR ADCDAC저항형 DAC고성능 센서ADC 기술면적 효율이미지 센서캐패시터형 DAC컬럼 ADC고속 변환CMOS 이미지 센서축차 비교형 ADC비트 결정전자회로디지털신호 |
기술완성도 (TRL)
기본원리 파악
기본개념 정립
기능 및 개념 검증
연구실 환경 테스트
유사환경 테스트
파일럿 현장 테스트
상용모델 개발
실제 환경 테스트
사업화 상용운영
기술 소개
매도/매수 절차
기술이전 상담신청
연구자 미팅
기술이전 유형결정
계약서 작성 및 검토
계약 및 기술료 입금

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